特許
J-GLOBAL ID：200903034966615637

SIR測定装置及びSIR測定方法

発明者：
三好 憲一

三好 憲一 について

, 
平松 勝彦

平松 勝彦 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 鷲田 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-006764
公開番号（公開出願番号）：特開2001-197017
出願日： 2000年01月14日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
要約：
【要約】【課題】 干渉が突発的に発生するような環境においても精度良くSIR測定を行うことが可能なSIR測定装置及びSIR測定方法を提供する。【解決手段】 受信信号より希望波電力を検出する一方、受信信号より干渉波電力を検出すると共に、時間的に前後する干渉波電力検出値を長区間スロットに亘る平均化処理と短区間スロットに亘る平均化処理を行い、更に2つ平均値の差を求めて干渉波電力の変動量の大きさを検出し、検出した干渉波電力の変動量が大きい場合には短区間の平均値を、変動量が小さい場合には長区間の平均値を選択し、選択した平均値と希望波電力との比を求める。
請求項（抜粋）：
受信信号より希望波の電力を検出する希望波電力検出手段と、前記受信信号より干渉波の電力を検出する干渉波電力検出手段と、前記干渉波電力検出手段の出力を平均する平均化手段と、前記干渉波電力検出手段の出力より干渉波電力の変動量の大きさを検出する干渉変動量検出手段と、前記干渉変動量検出手段の出力に応じて前記平均化手段における平均長を可変する平均長可変手段と、前記希望波電力検出手段の出力と前記平均化手段の出力との比を求めるSIR計算手段と、を具備することを特徴とするSIR測定装置。
IPC (2件)：
H04B 17/00 ,  H04B 7/26
FI (2件)：
H04B 17/00 R ,  H04B 7/26 K
Fターム (24件)：
5K042AA06 ,  5K042BA01 ,  5K042CA02 ,  5K042CA13 ,  5K042DA01 ,  5K042DA19 ,  5K042EA03 ,  5K042EA15 ,  5K042FA29 ,  5K042GA14 ,  5K042GA15 ,  5K042HA11 ,  5K042JA01 ,  5K042JA03 ,  5K067AA03 ,  5K067CC10 ,  5K067DD42 ,  5K067DD43 ,  5K067DD44 ,  5K067DD48 ,  5K067EE02 ,  5K067EE10 ,  5K067FF16 ,  5K067GG09
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • SIR測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-349575   出願人：富士通株式会社

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