特許

J-GLOBAL ID：200903034976193684

個体識別装置

発明者： 久野 裕次
出願人/特許権者： 沖電気工業株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 幸男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-363657
公開番号（公開出願番号）：特開2000-185031
出願日： 1998年12月22日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：

【要約】【課題】 照合エラーが発生したとき、その原因を容易かつ確実に解析し得る個体識別装置を提供する。【解決手段】 画像入力部11により照合を行うべき個人の目の画像が取得される。虹彩抽出部12により取得された目の画像から領域が特定され、虹彩に極座標が設定される。半径方向皺壁特徴抽出部13により皺壁111の特徴量が抽出され、窩孔特徴抽出部15により窩孔112の特徴量が抽出され、分割輪特徴抽出部16により分割輪113の特徴量が抽出されて、入力虹彩情報が構成される。そして、照合部17により入力虹彩情報と登録部18の登録虹彩情報とが照合され、個人識別が行われる。

請求項（抜粋）：

瞳孔および虹彩を含む目の画像の虹彩の皺壁の特徴量を抽出する皺壁特徴抽出部と、前記皺壁特徴抽出部により抽出された皺壁の特徴量を用いて照合を行う照合部とを備えたことを特徴とする個体識別装置。

IPC (2件)：

A61B 5/117 ,  G06T 7/00

FI (2件)：

A61B 5/10 320 Z ,  G06F 15/62 465 K

Fターム (9件)：

4C038VA07 ,  4C038VB04 ,  4C038VC05 ,  5B043AA09 ,  5B043BA04 ,  5B043EA02 ,  5B043EA05 ,  5B043EA08 ,  5B043GA02