特許
J-GLOBAL ID：200903035009493356
平滑性測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-139055
公開番号（公開出願番号）：特開平5-332755
出願日： 1992年05月29日
公開日（公表日）： 1993年12月14日
要約：
【要約】【目的】試料面位置が変動すると測定結果が変化する、1箇所の測定に時間がかかるといった従来法の問題点を改良した、平滑性測定装置を提供することである。【構成】試料表面の法線に対し10度以下の位置から円形のパターンを表面に投影し、その正反射像を撮影する手段と、同撮影手段からの電気信号を画像解析する手段を備えたことを特徴とする平滑性測定装置。【効果】光沢を有するシート表面の平滑度を非接触で、高速に測定することが出来る。
請求項（抜粋）：
試料表面の法線に対し、10度以下の位置から円形のパターンを表面に投影し、その正反射像を撮影する手段と、同撮影手段からの電気信号を画像解析する手段を備えたことを特徴とする平滑性測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/30
, G01B 11/00
, G06F 15/62
