特許
J-GLOBAL ID：200903035013017984
検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-318048
公開番号（公開出願番号）：特開平7-174807
出願日： 1993年12月17日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：
【要約】【目的】 被検査装置に内蔵された接点の状態を検査する装置において、被検査装置内で発生した不完全短絡を検知することができる検査装置を得る。【構成】 検査される接点1に直流電源6で試験電源を印加し、接点1の開閉動作に応動するようにリレー5を設けて接点1の状態を検査するとともに、リレー5を介して流れる電流を電流計8で監視し、被検査装置内で発生した不完全短絡を検出できるようにした。
請求項（抜粋）：
検査される接点に直列接続された試験電源、上記接点に直列接続され、上記試験電源から上記接点を介して出力される所定の電流で動作する動作検知器、及びこの動作検知器を介して流れる電流を検出する電流検知器を備えたことを特徴とする検査装置。
IPC (2件)：
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