特許
J-GLOBAL ID：200903035017653834
液晶パネルの検査方法と欠陥検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
林 敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-162965
公開番号（公開出願番号）：特開平7-020183
出願日： 1993年06月30日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：
【要約】【目的】 液晶駆動波形において、液晶駆動電圧とデューティとフレーム周波数を可変させることにより液晶に印加する直流残留成分をある一定の値にする。このことにより液晶パネル内の検出されにくい欠陥、例えば封止口による影響、ラビングによる配向キズ、ゴミ等を発見する。【構成】 DC成分を含んだ波形の残留直流成分が0Vrms以上、5Vrms以下であり、フレーム周波数が64Hz以上、256Hz以下の間または駆動電圧が0V以上、5V以下の間、またデューティが0%以上、100%以下の間であることを特徴とする液晶パネル検査方法及び装置。
請求項（抜粋）：
DC成分を含んだ駆動波形を液晶パネルの表示部に印加し該表示部の表示欠陥を発現させることを特徴とする液晶パネルの検査方法。
IPC (2件)：
G01R 31/00
, G02F 1/13 101
