特許

J-GLOBAL ID：200903035024980123

テストシステム

発明者： 横山 圭
出願人/特許権者： 株式会社ピーエフユー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-008917
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206209
出願日： 1999年01月18日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】 ゲート規模が大きいLSI設計は、機能的にまとまっているモジュールに分割し、モジュール単位で行っている。この場合、モジュール毎およびLSI全体が正しく動作するかを検証する複数のテストパターンを作成しなければならず、テストパターンの作成に多くの工数を要するという問題点があった。【解決手段】 LSI全体を検証するテストシステムにおいて、LSIにシリアル形式に変換されたテストパターンをモジュールに印可する機構を設け、テストベンチに、LSIのモジュール検証に使用されたパラレル形式のテストパターンをシリアル形式に変換し、それをモジュールに入力し、シミュレーションした結果をパラレル形式に変換し、モジュール検証のシミュレーション結果とLSIのシミュレーション結果とを比較する機構を設け、モジュール検証に使用したテストパターンをLSI全体の検証に流用する。

請求項（抜粋）：

LSI全体を検証するテストシステムにおいて、LSI(1)に、シリアル形式に変換されたテストパターンをモジュールに印加するテスト回路部(11)を設け、テストベンチ(2)を、モジュールの検証に使用したパラレル形式のテストパターンをシリアル形式に変換するテストパターン形式変換部(21)と、テストパターンをテスト回路部(11)に入力し、モジュールの出力をLSIから出力するテストパターン入出力制御部(22)と、モジュールからの出力をパラレル形式に変換する出力形式変換部(23)と、モジュールの検証によって出力されたシミュレーション結果とLSIからの出力とが一致することを確認する比較部(24)とで構成し、モジュールの検証に使用したテストパターンとモジュールの検証で出力されるシミュレーション結果とをLSI全体の検証に流用することを特徴とするテストシステム。

IPC (3件)：

G01R 31/3183 ,  G01R 31/28 ,  G06F 17/50

FI (3件)：

G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 664 D

Fターム (18件)：

2G032AA01 ,  2G032AB01 ,  2G032AC08 ,  2G032AE08 ,  2G032AE12 ,  5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B046JA04 ,  9A001BB02 ,  9A001BB04 ,  9A001BB05 ,  9A001DD15 ,  9A001EE02 ,  9A001HH32 ,  9A001JJ49 ,  9A001KK37 ,  9A001KK54 ,  9A001LL05