特許
J-GLOBAL ID：200903035032446918
質量分析計
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
縣 浩介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-089447
公開番号（公開出願番号）：特開平5-258712
出願日： 1992年03月14日
公開日（公表日）： 1993年10月08日
要約：
【要約】【目的】 大気中のプラズマ炎よりイオンを引き出して質量分析計に導入する場合、イオン引出し部の効率を低下させず、プラズマの光が質量分析計のイオン検出部に入射するのを阻止する。【構成】 イオン引出し用スキマーコーン2の真空側でスキマーコーン中心線上にスキマーコーンの先端に向かって延びる棒状導体の遮光体4を配置した。【効果】 上記導体は遮光と共にスキマコン内のイオン引出し電界をコーン先端近くに集中させる効果があり、イオン引出し効率は却って向上する。
請求項（抜粋）：
サンプリングコーンと、その後のスキマコーンと、更にその後のイオン引出し電極とよりなる、大気圧下から質量分析部へのイオン導入部において、外光の質量分析部への進入を阻止する遮光体を細長い形にし、スキマコーンの後方でスキマコーンとサンプリングコーンの先端開口を連ねる軸線上にその長軸を一致させ、先端をスキマコーンの先端に近接させて配置したことを特徴とする質量分析計。
IPC (2件)：
引用特許：
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