特許

J-GLOBAL ID：200903035036585890

測定値推定方法

発明者： 平野 哲史 ,  赤堀 幸宏 ,  山崎 博実 ,  三林 浩二
出願人/特許権者： 日機装株式会社 ,  三林 浩二
代理人 (1件)： 福村 直樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-027507
公開番号（公開出願番号）：特開2005-221279
出願日： 2004年02月04日
公開日（公表日）： 2005年08月18日
要約：

【課題】安定化前の測定値から安定化後に得られる測定値を推定する測定値推定方法を提供すること。【解決手段】対象特性値が既知で異なる複数の試料をそれぞれ経時的に測定し、その微分値の最大値と試料の特性値との関係を数式化し、所定の試料の測定最大微分値から特性値を推定することを特徴とする測定値推定方法である。【選択図】 なし

請求項（抜粋）：

対象特性値が既知で異なる複数の試料をそれぞれ経時的に測定し、 その微分値の最大値と試料の特性値との関係を数式化し、 所定の試料の測定最大微分値から特性値を推定する ことを特徴とする測定値推定方法。

IPC (2件)：

G01N27/416 ,  G01N27/26

FI (3件)：

G01N27/46 336C ,  G01N27/26 371A ,  G01N27/46 336G