特許
J-GLOBAL ID:200903035084284568

X線-光変換部材用粒状度測定方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-032047
公開番号(公開出願番号):特開平9-229877
出願日: 1996年02月20日
公開日(公表日): 1997年09月05日
要約:
【要約】【課題】 X線-光変換部材の出力画像の粒状度の測定を容易に行え、かつ、個々のモトルを得ることができるX線-光変換部材用粒状度測定方法及び装置を提供することにある。【解決手段】 X線源1から発したX線をX線-光変換部材に照射し、当該X線-光変換部材からの光像をCCDカメラ22で撮像し、CCDカメラ22からの撮像信号を用いてX線-光変換部材の出力画像の粒状度を演算する。
請求項(抜粋):
X線源から発したX線をX線-光変換部材に照射し、当該X線-光変換部材からの光像をCCD撮像手段で撮像し、当該CCD撮像手段からの撮像信号を用いて前記X線-光変換部材の出力画像の粒状度を演算することを特徴とするX線-光変換部材用粒状度測定方法。
IPC (3件):
G01N 23/08 ,  G01B 15/00 ,  H04N 5/32
FI (3件):
G01N 23/08 ,  G01B 15/00 A ,  H04N 5/32

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