特許
J-GLOBAL ID:200903035154746840

X線透視装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴木 利之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-341160
公開番号(公開出願番号):特開平7-167801
出願日: 1993年12月13日
公開日(公表日): 1995年07月04日
要約:
【要約】【目的】 点状X線源と2次元走査可能な点状X線検出器を用いることにより、点状X線源を用いる従来のX線透視装置の利点を維持しつつ、透視画像の位置分解能を高くする。【構成】 X線源10から出たX線は、被検体14を透過して二つの点状X線検出器16、18でそれぞれ検出される。点状X線検出器16、18はピンホール20、21とシンチレーションカウンタ(SC)22、23からなる。二つの点状X線検出器16、18をY方向とZ方向に走査することにより、両方の点状X線検出器において被検体14の任意の位置からの透過X線をすべて検出する。それぞれのSC22、23の出力はSC22、23のそのときの位置情報と共に、各SCごとに画像メモリに記録される。そして、それぞれのSC22、23から得られた別個の画像は、立体視可能な態様で陰極線管表示装置に表示される。
請求項(抜粋):
実質的に点状のX線源と2次元的強度分布を測定するX線検出部との間に被検体を配置して被検体を透視するX線透視装置において、前記X線検出部に、実質的に点状の検出領域を有する点状X線検出器を設け、この点状X線検出器を2次元的に走査することを特徴とするX線透視装置。

前のページに戻る