特許
J-GLOBAL ID:200903035159077407

光量測定装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 若林 忠 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-113663
公開番号(公開出願番号):特開平11-308056
出願日: 1998年04月23日
公開日(公表日): 1999年11月05日
要約:
【要約】【課題】 フォトダイオードの出力を増幅するオペアンプの出力をフィードバックさせる光量測定装置で、過剰な光量の入射によりフォトダイオードに過大な電流が通電されることを防止する。【解決手段】 光線の入射に対応してフォトダイオード22が発生する電流をオペアンプ23が増幅して出力し、この出力電流がフィードバック抵抗24を介してフィードバックされる。このフィードバックされる電流はフォトダイオード22にも通電されるが、このフォトダイオード22に通電される電流はダイオード保護回路25により事前に設定された制限電流より以下に制限されるので、フォトダイオード22に過剰な光線が入射されても過大な電流が通電されない。
請求項(抜粋):
測定する光線の入射に対応して電流を発生するフォトダイオードと、該フォトダイオードが発生する電流を増幅して出力するオペアンプと、該オペアンプの出力端子と前記フォトダイオードが接続されている入力端子とを所定の電気抵抗を介して接続するフィードバック抵抗と、前記フォトダイオードに通電される電流を事前に設定された制限電流より以下に制限するダイオード保護回路と、を具備している光量測定装置。
IPC (2件):
H03F 3/08 ,  G01J 1/44
FI (2件):
H03F 3/08 ,  G01J 1/44 F

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