特許

J-GLOBAL ID：200903035198579304

X線検査装置

発明者： 嶌田 征浩
出願人/特許権者： 株式会社イシダ
代理人 (1件)： 小野 由己男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-346182
公開番号（公開出願番号）：特開2002-148214
出願日： 2000年11月14日
公開日（公表日）： 2002年05月22日
要約：

【要約】【課題】 連続搬送される物品の検査を行う際に、大きさや搬送状況に応じて確実に検査を行えるX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線検査装置10は、X線源13、コンベア12、X線ラインセンサ14、及びX線源移動機構17を備える。X線源移動機構17は、X線源13の高さ位置を変更する。これにより、X線源13の照射強度を変えることなく、商品に対するX線の照射量を変更することができる。

請求項（抜粋）：

物品を搬送させながらX線を用いて前記物品の検査を行うX線検査装置であって、X線を照射するX線源と、前記X線源の下方に配置され、前記物品を搬送する搬送機構と、前記X線源及び前記搬送機構の下方に配置され、前記X線源からのX線を検出するX線ラインセンサと、前記X線源を移動させ、前記X線源の高さ位置を変更する移動手段と、を備えたX線検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G01B 15/00

FI (2件)：

G01N 23/04 ,  G01B 15/00 A

Fターム (33件)：

2F067AA27 ,  2F067CC00 ,  2F067HH04 ,  2F067HH12 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL16 ,  2F067PP12 ,  2F067RR35 ,  2G001AA01 ,  2G001AA07 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001CA07 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001FA21 ,  2G001GA01 ,  2G001GA08 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA02 ,  2G001JA09 ,  2G001JA11 ,  2G001JA13 ,  2G001JA20 ,  2G001KA03 ,  2G001KA11 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  2G001SA04 ,  2G001SA14