特許
J-GLOBAL ID：200903035203090122
集積回路の検査容易化設計方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-106082
公開番号（公開出願番号）：特開2000-067105
出願日： 1999年04月14日
公開日（公表日）： 2000年03月03日
要約：
【要約】【課題】 スキャン化FFを同定する検査容易化設計方法として、従来よりも検査系列生成を容易にする。【解決手段】 集積回路からFF関係グラフを作成し(SA1)、このFF関係グラフからセルフループを構成するFFを認識した上で(SA2)、全てのFFをスキャン化する(SA3)。そして、セルフループを構成しない全FFを、検査系列生成の困難度との関連度合を表す所定の評価指標に従って、ソートする(SA4)。例えば、平衡再収斂構造との関連度合を表す指標を評価指標として用いる。このソート順に、セルフループを構成しない各FFについて、非スキャン化すると仮定したときに集積回路がn重整列構造になるか否かの判定を行い、スキャン化するか否かを決定する(SA5〜SA8)。
請求項（抜粋）：
ゲートレベルまたはレジスタ・トランスファ・レベルで設計された集積回路に対し、製造後の検査が容易になるよう、設計変更を行う検査容易化設計方法であって、前記集積回路の全てのフリップフロップ(FF)またはレジスタを、スキャン化するものとして仮決定するフルスキャン処理と、FFまたはレジスタのソートを、検査系列生成の困難度との関連度合を表す所定の評価指標に従って行うソート処理と、前記フルスキャン処理においてスキャン化するものとして仮決定された各FFまたはレジスタについて、前記ソート処理によって得たソート順に従って、当該FFまたはレジスタをスキャン化しないものと仮定したときに前記集積回路がn重整列構造になるか否かを判定し、n重整列構造になるときは、スキャン化しないものとして仮決定する一方、n重整列構造にならないときは、スキャン化するものとする仮決定を維持する非スキャン化選択処理とを備え、非スキャン化選択処理を実行した結果、スキャン化するものとして仮決定されているFFまたはレジスタを、スキャン化するFFまたはレジスタとして確定することを特徴とする検査容易化設計方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/60 654 N
, G01R 31/28 G
