特許
J-GLOBAL ID:200903035294732261
炭素質成形体の検査方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
伊東 辰雄 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-242366
公開番号(公開出願番号):特開平8-082607
出願日: 1994年09月12日
公開日(公表日): 1996年03月26日
要約:
【要約】【目的】 簡便かつ迅速な炭素質成形体の検査方法を提供する。【構成】 体積空隙率10〜80%を有する炭素成形体に異なる複数方向からX線を照射し、その投影データを基に画像を再構成することを特徴とする炭素質成形体の検査方法。
請求項(抜粋):
体積空隙率10〜80%を有する炭素成形体に異なる複数方向からX線を照射し、その投影データを基に画像を再構成することを特徴とする炭素質成形体の検査方法。
IPC (3件):
G01N 23/04
, C04B 35/83
, G01N 9/24
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