特許
J-GLOBAL ID：200903035309241243

スペクトル測定用試料保持体および分光光度計

発明者：
中山 欽一

中山 欽一 について


出願人/特許権者：
株式会社日本触媒

株式会社日本触媒 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-361267
公開番号（公開出願番号）：特開2004-163422
出願日： 2003年10月21日
公開日（公表日）： 2004年06月10日
要約：
【課題】液状試料の新しい分光スペクトル測定方法およびその測定に使用するに適した液状試料の保持体を提供する。【解決手段】分光光度計の測定室に設置可能となっており、分光スペクトル測定用の光照射手段1から出射される分光スペクトル測定用の照射光を、液状試料に導入可能とした状態で該液状試料を保持するための分光スペクトル測定用試料保持体であって、さらにさらに分光スペクトル測定用以外の別の光照射手段2として、γ線、X線、紫外線、可視光線および遠赤外線から選択される少なくとも1種の光による照射手段2が備えられることを特徴とする液状試料を保持するための分光スペクトル測定用試料保持体である。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
分光光度計の測定室に設置可能となっており、分光スペクトル測定用の光照射手段(21)から出射され、光検出部(22)まで到達する分光スペクトル測定用の照射光を、液状試料または液状試料の塗膜に導入可能とした状態で該液状試料または液状試料の塗膜を保持するための分光スペクトル測定用試料保持体であって、該分光スペクトル測定用試料保持体には、上記液状試料または液状試料の塗膜に分光スペクトル測定用の照射光を導入する光導入路(112)が設けられ、該光導入路(112)の位置が、当該分光スペクトル測定用試料保持体を上記測定室に設置した場合に、上記分光スペクトル測定用の照射光の進行経路(L)に対して平行となる位置であり、 さらに上記測定室には、分光スペクトル測定用以外の別の光照射手段(6)として、電子線、γ線レーザー線、X線、紫外線、可視光線および遠赤外線から選択される少なくとも1種の光または電子線による照射手段(6)が、上記保持体に外付けで備えられており、 さらに当該スペクトル測定用試料保持体には、上記液状試料に分光スペクトル測定用の照射光を導入する光導入路(112)とは別に、該照射手段(6)により照射される光または電子線を該液状試料または液状試料の塗膜に導入可能とする光導入路(116)が設けられ、 該照射手段(6)の位置が、該照射手段(6)より出射される光または電子線を当該試料または液状試料の塗膜に対して導入可能な位置に配置されていることを特徴とする分光スペクトル測定用試料保持体。
IPC (2件)：
G01N21/01 ,  G01N21/75
FI (3件)：
G01N21/01 B ,  G01N21/01 C ,  G01N21/75 Z
Fターム (34件)：
2G043BA14 ,  2G043CA03 ,  2G043DA06 ,  2G043DA08 ,  2G043EA03 ,  2G043EA13 ,  2G043FA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G054AA02 ,  2G054GA01 ,  2G054GB01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC12 ,  2G059DD13 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059FF05 ,  2G059FF06 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH05 ,  2G059HH06 ,  2G059LL01
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
  • 特開平4-143637
  • 微粒子検出器の光軸調整機構
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-089531   出願人：日立電子エンジニアリング株式会社
  • 特開平1-295134
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM