特許
J-GLOBAL ID：200903035315134327
電位センサの補正装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
稲岡 耕作 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-316904
公開番号（公開出願番号）：特開平5-150580
出願日： 1991年11月29日
公開日（公表日）： 1993年06月18日
要約：
【要約】【構成】低基準バイアスユニット21および高基準バイアスユニット22によって感光体ドラム1に2つの基準バイアスをかけ、電位センサ4の測定値を制御部23のメモリ23aに記憶する。メモリ23aに記憶された測定値から、電位センサ4の検出電圧-出力の関係を示す第1の直線を決定し、決定された第1の直線と同じ傾きで原点を通る第2の直線を求める。この第2の直線により電位センサ4の出力の校正を行う。【効果】残留電位に影響されることなく、正しく電位センサの出力の校正をすることができる。
請求項（抜粋）：
感光体の帯電電位を検出する電位センサの出力を補正するためのものであって、感光体に低基準バイアス電圧をかける低基準バイアス印加手段、感光体に高基準バイアス電圧をかける高基準バイアス印加手段、感光体の表面電位を検知する電位センサ、低基準バイアス印加手段および高基準バイアス印加手段にて上記2つの基準バイアス電圧をかけたときの電位センサの各出力に基づいて、電位センサの検出電圧-出力特性の関係を示す第1の直線を決定し、この決定した第1の直線と同じ傾きで原点を通る第2の直線を求める演算手段、および演算手段にて求めた第2の直線に基づいて電位センサの出力の校正を行う校正手段を含むことを特徴とする電位センサの補正装置。
IPC (2件)：
G03G 15/00 103
, H04N 1/29
