特許
J-GLOBAL ID：200903035315201474
位相差測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松崎 清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-062675
公開番号（公開出願番号）：特開平8-136596
出願日： 1995年03月22日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：
【要約】【目的】 同一周波数の2つの信号の位相差(微小時間差)をA/D変換の必要ビット数を少なくして高精度に測定可能とする。【構成】 例えば、流量計の上流側ピックアップ1A,下流側ピックアップ1Bからの各出力の外に、これらを加算した加算回路2からの出力をコンパレータ3,PLL回路4,アンチェリアスフィルタ5A〜5C,サンプルホールド回路6A〜6CおよびA/D変換器7A〜7Cによってそれぞれ量子化し、バンドパスフィルタ8A〜8Cで所望の信号成分だけを抽出したのち、DFT9A〜9Cで複素フーリエ変換することで、上流側,下流側ピックアップ信号等の同一周波数の2つの信号の位相差を、A/D変換器の必要ビット数を少なくして高精度に検出可能とする。
請求項（抜粋）：
同一周波数の2つの信号の和または差を求める演算手段と、この演算手段からの出力および前記2つの信号をそれぞれ量子化する量子化手段と、その量子化された信号から所定周波数成分のみを抽出する帯域フィルタ手段と、その出力信号をフーリエ変換し所定の演算を行なって前記信号の基本周波数における位相差を演算する位相差演算手段とを設けたことを特徴とする位相差測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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