特許
J-GLOBAL ID：200903035323158138
液晶ディスプレイパネルの検査方法及び検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐野 静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-332250
公開番号（公開出願番号）：特開2001-147178
出願日： 1999年11月24日
公開日（公表日）： 2001年05月29日
要約：
【要約】【課題】 迅速かつ正確に液晶ディスプレイパネルの欠陥部分を検出してその位置を特定できる液晶ディスプレイパネルの検査装置を低コストで提供する。【解決手段】 検査台4上の所定位置に液晶ディスプレイパネル10をセットして、光源3により下方から光を照射するとともに、信号発生器7を駆動してプローブ6x及び6yに信号を与えると、液晶ディスプレイパネル10の全面が点灯するので、目視により点灯してない欠陥部分(画素)の検出を行う。欠陥部分fが検出されたときは、投影装置5から液晶ディスプレイパネル10上に投影されるポインタPをマウス9により移動させて前記欠陥部分fに一致させて指定する。この指定されたポインタPの位置情報に基づき制御装置8によって欠陥部分fの位置が特定される。
請求項（抜粋）：
二次元的に画素を配列した液晶ディスプレイパネルの検査方法において、二次元的に移動自在な位置指定用マークを制御手段により投影手段を介して液晶ディスプレイパネル上に投影するとともに、全ての画素を点灯した状態で欠陥部分を目視により検出し、前記制御手段に接続された操作部材によって前記位置指定用マークを前記欠陥部分に移動させることにより、その位置指定用マークの位置情報に基づき前記制御手段により前記欠陥部分の位置を特定することを特徴とする液晶ディスプレイパネルの検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/00 T
, G01N 21/88
2G051AA73
, 2G051AB02
, 2G051CA11
, 2G051DA07
, 2G051DA15
, 2G086EE10
