特許
J-GLOBAL ID：200903035349806774

レーザー脱離イオン化質量分析における試料作成方法とそれに用いるサンプルプレート

発明者：
古田 大

古田 大 について

, 
花房 信博

花房 信博 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-326665
公開番号（公開出願番号）：特開2004-163142
出願日： 2002年11月11日
公開日（公表日）： 2004年06月10日
要約：
【課題】メンブレンに固相化された試料をレーザー脱離イオン化質量分析方法のサンプルプレートに移し替える作業を小型の装置で実現できるようにする。【解決手段】サンプルプレート2は、レーザー照射による試料イオン化のためのイオン化領域である質量分析用測定試料作成領域44と、試料が固相化されたメンブレンを固定する平面領域であるメンブレン貼付け領域46を併せもっている。測定試料作成領域44は、メンブレン貼付け領域46に貼り付けられて固定された滴下されたメンブレンから抽出された試料がマトリックス溶液とともに滴下されて配置されるスポット48が規則的に配列されている。スポット48は、一定領域から拡散せず収束したまま乾燥するように、周囲が溝50で取り囲まれた円形の構造をしている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
質量分析装置に装着されたサンプルプレート上に配置された試料にレーザー光を照射することにより試料をイオン化して分析するレーザー脱離イオン化質量分析方法のサンプルプレート上に分析対象の試料を作成する方法において、 前記サンプルプレート表面の一部の領域をレーザー照射による試料イオン化のためのイオン化領域とし、サンプルプレート表面の他の領域を、試料が固相化されたメンブレンを固定する平面領域とし、 試料が固相化されたメンブレンが前記平面領域に固定された状態にした後、前記メンブレンから試料を抽出し、その抽出した試料を前記イオン化領域に配置してイオン化用の試料を作成することを特徴とする試料作成方法。
IPC (3件)：
G01N1/28 ,  G01N27/62 ,  G01N27/64
FI (6件)：
G01N1/28 M ,  G01N27/62 F ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 V ,  G01N27/64 B ,  G01N1/28 U
Fターム (8件)：
2G052AA28 ,  2G052AB18 ,  2G052AB20 ,  2G052AD06 ,  2G052AD52 ,  2G052DA07 ,  2G052FD03 ,  2G052GA24
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM