特許
J-GLOBAL ID：200903035360967925
表示装置における画素欠陥のマーク方法及びマーク装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-199009
公開番号（公開出願番号）：特開平10-039843
出願日： 1996年07月29日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：
【要約】【課題】画素欠陥を再確認する際に欠陥位置を容易に特定できるようにし、画素欠陥の再確認作業の短時間化を図る。【解決手段】表示装置10の表示画面10aに黒点欠陥41が存在する場合、その表示画面10a中に黒点欠陥41を中心とする円の図形51を表示する。表示装置10の表示画面10aに白点欠陥42が存在する場合、その表示画面10a中に白点欠陥42を中心とする矩形の図形52を表示する。画素欠陥の種類に応じた図形を画素欠陥を中心として検査対象である表示装置10に表示することにより、画素欠陥の再確認作業を容易にできる。
請求項（抜粋）：
表示装置の表示画面を構成する画素中における欠陥の検出結果に基づいて、欠陥部分を特定する図形を、検査対象である表示装置の画面に表示データを用いて表示、または、記入手段により表記することを特徴とする表示装置における画素欠陥のマーク方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G09G 5/00 X
, G09G 3/20 Z
