特許
J-GLOBAL ID：200903035389902300
X線回折定性分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石井 康夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-253774
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074923
出願日： 1992年08月28日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：
【要約】【目的】 誰にでも容易に測定条件の設定および測定結果の分析を行ない、精度のよい測定を行なうことのできるX線回折定性分析測定装置を提供する。【構成】 測定部1は、測定環境に関する質問を表示し、オペレータからの答えを受け、AI分析部2で知識ベース3を用いて測定条件を推論し、測定条件の設定を行なう。設定された条件で測定装置4にて測定を行い、測定結果に基づき入力されたデータから、AI分析部で測定の良否を推論し、結果を表示する。
請求項（抜粋）：
X線回折定性分析装置において、オペレータとの対話により測定条件を設定し、測定装置による測定を実行し、測定結果および分析結果の表示を行なう測定部と、測定部の問い合わせに応じ、測定条件および測定結果の分析を行ない測定部に分析結果を回答するAI分析部を有し、測定条件の設定時には、測定部においてオペレータによる所定の入力データを受け取り、該入力データをAI分析部に送り、AI分析部において測定条件を分析し、分析結果を測定部に通知し、測定部において測定条件を設定することを特徴とするX線回折定性分析装置。
引用特許：
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