特許

J-GLOBAL ID：200903035417297573

磁気ヘッド浮上量測定用模擬ディスク

発明者： 伊藤 和弘 ,  後藤 直雪
出願人/特許権者： 株式会社オハラ
代理人 (1件)： 坂本 徹 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-102223
公開番号（公開出願番号）：特開平11-043348
出願日： 1998年03月30日
公開日（公表日）： 1999年02月16日
要約：

【要約】【課題】 塵,埃等の静電付着および磁気ヘッドの破損を防止し、透過性,均質性,耐摩耗性にも優れた磁気ヘッド浮上量測定用模擬ディスクを提供する。【解決手段】 SiO2-R2O(R=Li,Na,K)系ガラスまたは結晶化ガラスにおいて、108〜1014Ωcmの電気抵抗を有し、摩耗度が90以下であるガラスまたは結晶化ガラスからなる磁気ヘッド浮上量測定用模擬ディスク。

請求項（抜粋）：

SiO2-R2O(R=Li,Na,K)系ガラスまたは結晶化ガラスにおいて、108〜1014Ωcmの電気抵抗率を有し、摩耗度が90以下であるガラスまたは結晶化ガラスからなる、磁気ヘッド浮上量測定用模擬ディスク。

IPC (4件)：

C03C 3/093 ,  C03C 10/04 ,  G01B 11/14 ,  G11B 5/455

FI (4件)：

C03C 3/093 ,  C03C 10/04 ,  G01B 11/14 G ,  G11B 5/455 G