特許

J-GLOBAL ID：200903035442866809

検査装置および方法

発明者： 石羽 正人 ,  杉山 俊幸
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 牛久 健司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-082724
公開番号（公開出願番号）：特開平11-258178
出願日： 1998年03月13日
公開日（公表日）： 1999年09月24日
要約：

【要約】【目的】 検査した対象の状態を場所と時間を違えても把握できるようにする。【構成】 実装不良と判定された部品については,その部品を含む画像を切り出し,この部品画像データを検査結果とともに,表示,プリント,記憶または送信する。

請求項（抜粋）：

複数の部品が実装された検査対象を撮像することにより得られる画像に基づいて部品の実装状態を判定する検査装置において,少なくとも実装不良と判定された部品を含む画像を表すデータを取得する手段,および検査結果情報と取得した画像データとを関連づけて出力する手段,を備えた検査装置。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00 ,  H05K 13/08

FI (4件)：

G01N 21/88 F ,  G01B 11/24 K ,  H05K 13/08 Q ,  G06F 15/62 405 B