特許
J-GLOBAL ID：200903035448489101
液晶表示装置及びその検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
豊田 善雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-061385
公開番号（公開出願番号）：特開平6-250225
出願日： 1993年02月26日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：
【要約】【目的】 液晶表示装置の半導体側基板への針当てを必要とせずに、基板上の半導体部位の良否検査ができる検査回路を具備した液晶表示装置の提供と、その良否検査を可能にする。【構成】 映像信号入力線9又はこれに準するモニタ信号線20に、アンプ11及びリセットスイッチ13から成る検査回路Aを設け、まず一定電圧の信号を走査して各画素4に書き込み、次に、この書き込まれた信号を画素4を走査してアンプ11を通して読み出すことにより、当該画素やラインにおけるキズ等の欠陥の有無を判断する。
請求項（抜粋）：
複数の映像信号線に垂直走査回路で走査される複数の画素トランジスタを介して液晶セルを接続した液晶表示装置において、各映像信号線をそれぞれ水平走査回路で制御される水平転送スイッチを介して共通の映像信号入力線に接続し、前記映像信号入力線に、一度画素に書き込んだ信号を読み出すアンプ及び前記信号入力線を一定電位にリセットするリセットスイッチから成る検査回路を設けたことを特徴とする液晶表示装置。
IPC (3件)：
G02F 1/136 500
, G01M 11/00
, G01R 31/00
