特許

J-GLOBAL ID：200903035465060364

半導体装置

発明者： 金田 義宣
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 芝野 正雅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-004298
公開番号（公開出願番号）：特開2002-208300
出願日： 2001年01月12日
公開日（公表日）： 2002年07月26日
要約：

【要約】【課題】 電源投入後の実動作開始時間を短縮する。【解決手段】 インフォローメモリ領域4内にダミーデータ4Aを格納しておき、電源投入後に当該ダミーデータ4Aを実行できたか否かでLSI内部の安定状態を確認することで、電源投入後の実動作開始までの待ち時間を短縮することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

メモリマット内の一領域である情報エリア内にダミーデータを格納しておき、電源投入後に当該ダミーデータに基づいた所定作業が実行できたか否かでLSI内部の安定状態を確認することを特徴とする半導体装置。

IPC (5件)：

G11C 29/00 673 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/3183 ,  G11C 17/00 ,  G11C 16/02

FI (6件)：

G11C 29/00 673 W ,  G11C 17/00 D ,  G01R 31/28 B ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 Q ,  G11C 17/00 601 Z

Fターム (19件)：

2G132AA09 ,  2G132AK07 ,  5B003AA05 ,  5B003AB05 ,  5B003AC04 ,  5B003AD02 ,  5B003AE04 ,  5B025AA01 ,  5B025AC01 ,  5B025AD16 ,  5B025AE05 ,  5B025AE09 ,  5L106AA10 ,  5L106DD22 ,  5L106EE02 ,  5L106EE08 ,  5L106FF08 ,  5L106GG03 ,  5L106GG07

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 半導体メモリの検定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-179204   出願人：株式会社東芝
• パーソナルコンピュータ用診断システムおよびインタフェース
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-099994   出願人：インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
• 特開平4-167157
  
• 特許第3588529号