特許

J-GLOBAL ID：200903035536915668

試験作業システムにおける精度管理方法

発明者： 佐藤 修一 ,  山本 武司 ,  高部 光雄 ,  竹内 修一郎
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-182999
公開番号（公開出願番号）：特開平5-005632
出願日： 1991年06月27日
公開日（公表日）： 1993年01月14日
要約：

【要約】【目的】 試験作業システムにおける精度管理を効率良く確実に行うことができる方法を提供する。【構成】 ホストコンピュータ5によって多数の定常試料の測定順位の間に予め定期的に精度管理用の標準試料を組み込む作業指示を作成し、この作業指示を各試験機用の端末装置2に与える。この作業指示に基づいて各試験機1において多数の定常試料を測定する間に定期的に標準試料を測定する。精度管理ファイル4から精度管理情報を呼び出し、測定された標準試料の試験データに基づいて各試験機1の精度管理情報を作成する。定常試料の試験作業を中断したり標準試料の測定を見逃したりすることなく、各試験機1の精度管理結果が瞬時に把握される。

請求項（抜粋）：

複数の試験機による各種の試験を上位コンピュータからの作業指示に基づいて行う試験作業システムにおいて、前記上位コンピュータが前記各試験機に対して多数の定常試料の測定順位の間に予め定期的に精度管理用の標準試料を組み込む作業指示を与え、この作業指示に基づいて前記各試験機において多数の定常試料を測定する間に定期的に標準試料を測定し、その標準試料の試験データから前記各試験機の精度管理情報を作成することを特徴とする試験作業システムにおける精度管理方法。