集積回路装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-069586
公開番号（公開出願番号）：特開平11-264855
出願日： 1998年03月19日
公開日（公表日）： 1999年09月28日
要約：

【要約】【課題】 ROMデコーダのリーク電流の測定精度を向上させる。【解決手段】 ROMデコーダ3,4のリーク電流を測定するとき、各分割抵抗RP1〜RP64及びRN1〜RN64を並列接続されたトランジスタ12及び13により短絡させ、第1ラダー抵抗1の両端にテスト電圧VTP及び第2ラダー抵抗2の両端にテスト電圧VTNを電流計を介して供給することにより、分割抵抗の全接続点にテスト電圧VTP,VTNが供給され、半導体集積回路装置内の前段回路からのテストデータ信号により、ROMデコーダ3,4のリーク電流が電流計で精度よく測定可能となる。

請求項（抜粋）：

所定個数の抵抗を直列接続し、前記抵抗の少なくとも1個の接続点に補正電源電圧を供給し、全接続点に階調電圧を生成するラダー抵抗と、データ信号を供給し、前記ラダー抵抗からの前記階調電圧の1つを選択するROMデコーダと、前記ROMデコーダのリーク電流を測定するテスト回路とを具備する集積回路装置であって、前記テスト回路が前記リーク電流の測定時に前記所定個数の各抵抗を短絡する短絡手段を有する集積回路装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 , G09G 3/36 , H01L 21/66

FI (3件)：

G01R 31/28 V , G09G 3/36 , H01L 21/66 W

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