特許

J-GLOBAL ID：200903035639192621

電磁場解析装置および電磁場解析方法

発明者： 阿部 博史
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 堀 城之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-143197
公開番号（公開出願番号）：特開2003-330977
出願日： 2002年05月17日
公開日（公表日）： 2003年11月21日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、解析対象領域の一部で空間分解能が高い解析が必要となった場合でも、全領域において計算格子を細かくする必要がなく、全体の計算量が増加を防ぎ、計算の高速性を実現でき、高精度解析にかかる計算コストが低減させることができる電磁場解析装置および電磁場解析方法を提供することを課題とする。【解決手段】 計算領域階層的分割部4は、計算精度評価部3により計算精度が不充分とされた計算領域11から計算精度が不充分な領域を高精度計算領域12として階層的に分割し、高精度計算領域12を解析対象領域内精度データの計算精度情報に基づいて新たな空間分解能の高い格子領域を定義、すなわち計算格子生成部1により生成させた計算格子よりも細かい計算格子を生成する。

請求項（抜粋）：

解析対象領域に生成させた計算格子を複数の計算領域に分割し、分解した前記計算領域を複数の計算手段にそれぞれ割り当てて並列計算を行う電磁場解析装置であって、前記解析対象領域全体に均一な第1の計算格子を生成する計算格子生成手段と、該計算格子生成手段により生成された前記第1の計算格子を複数の前記計算領域に分割する第1の計算領域分割手段と、該第1の計算領域分割手段により分割された前記計算領域の内の計算精度が不充分な領域を高精度計算領域として分割し、求められる計算精度に応じて前記第1の計算格子よりも細かい高精度計算格子を生成する第2の計算領域分割手段と、前記計算領域と前記高精度計算領域とを前記複数の計算手段に割り当てる計算領域割り当て手段とを具備することを特徴とする電磁場解析装置。

IPC (5件)：

G06F 17/50 612 ,  G01R 29/08 ,  G06F 15/16 610 ,  G06F 15/177 674 ,  G06F 17/13

FI (5件)：

G06F 17/50 612 J ,  G01R 29/08 Z ,  G06F 15/16 610 Z ,  G06F 15/177 674 A ,  G06F 17/13

Fターム (12件)：

5B045AA07 ,  5B045EE25 ,  5B045GG15 ,  5B046AA07 ,  5B046JA10 ,  5B056AA05 ,  5B056BB03 ,  5B056BB22 ,  5B056BB36 ,  5B056BB42 ,  5B056EE03 ,  5B056HH07