特許
J-GLOBAL ID：200903035643687333
3次元形状測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-320245
公開番号（公開出願番号）：特開平7-174536
出願日： 1993年12月20日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：
【要約】【目的】 対象物体の形状を測定する3次元形状測定装置で画像の読み出しに要する時間を短縮し高速に読み出しを行う。【構成】 エリアイメージセンサにおいて、走査開始位置セット信号を入力するとその内容が垂直走査回路61に転送され、走査開始位置が設定される。そして、水平走査を行うことで所望の行の画像読み出しが行われる。次に垂直走査の1シフト信号を入力し走査位置を1行ずらし水平走査を行うことで読み出しを行う。この処理を繰り返すことで所望の帯状画像の読み出しができる。
請求項（抜粋）：
スリット光を対象物体に投射して2次元撮像素子で撮像して対象物体の形状を測定する3次元形状測定装置において、上記2次元撮像素子はスリット光が入射すると推測される領域の帯状画像を選択的に読み出すことを特徴とする3次元形状測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01B 11/00
, G06T 7/00
