分光光度計

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小林良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-195760
公開番号（公開出願番号）：特開平10-019679
出願日： 1996年07月05日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：

【要約】【課題】ダブルビーム型の分光光度計において、各光路の受光信号毎に適正な条件で信号処理を行ない高精度の測定ができるようにする。【解決手段】試料セル側の受光信号と参照セル側の受光信号とを増幅する際に、アンプの出力信号がそれぞれ相異なる出力範囲になるように(S4、S10)独立にゲインを決定し、その制御値を記憶しておく(S6、S12)。そして、分光測定の際には、決められたゲインになるようにアンプを制御する。これにより、信号処理部の演算ビット長等の制約に適合して、最も高い精度で透過率等を算出することが可能となる。

請求項（抜粋）：

試料セル及び参照セルを通過する二系統の光路を有するダブルビーム型の分光光度計において、a)二系統の光路の受光信号をそれぞれ増幅するために並設されたゲイン設定可能な二つの増幅器、或いは、該二系統の光路の受光信号を時分割で増幅するゲイン設定可能な唯一の増幅器と、b)試料のない状態で試料セル側光路の受光信号を増幅した値が第1の所定値となる第1のゲインを求めると共に、参照セル側光路の受光信号を増幅した値が第2の所定値となる第2のゲインを求めるゲイン決定手段と、c)分光測定時に、前記二つの増幅器のゲインを前記ゲイン決定により決められた値にそれぞれ設定する、或いは、前記唯一の増幅器のゲインを二系統の光路の切替えに対応して設定するゲイン設定手段と、を備えることを特徴とする分光光度計。

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