特許

J-GLOBAL ID：200903035699403001

質量分析装置

発明者： 奥村 昭彦 ,  平林 集
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-118489
公開番号（公開出願番号）：特開2001-297730
出願日： 2000年04月14日
公開日（公表日）： 2001年10月26日
要約：

【要約】【課題】高感度で高分解能な飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】ガス管6を通してヘリウムガスが導入されている四重極イオントラップ5にイオンを蓄積した後、イオンを射出して高真空部8に移送し、加速電極9においてイオンの進行方向に対して直角に電場加速して飛行時間質量分析を行う。【効果】遺伝子や蛋白など微量の高分子量試料を高速かつ高精度に分離分析できる。

請求項（抜粋）：

四重極イオントラップと四重極イオントラップからイオンを射出するイオン射出手段と射出されたイオンをその進行方向に直交する方向に加速する加速部と加速されたイオンの飛行時間を測定する飛行時間測定部とを備えることを特徴とする質量分析装置。

IPC (2件)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62

FI (3件)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L

Fターム (5件)：

5C038FF07 ,  5C038FF10 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ09

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 質量分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-011239   出願人：株式会社日立製作所
• 唾液の分析方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-174620   出願人：株式会社日立製作所