特許
J-GLOBAL ID:200903035709542730

イオン分析装置及びイオン分析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西岡 義明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-130213
公開番号(公開出願番号):特開平9-311129
出願日: 1996年05月24日
公開日(公表日): 1997年12月02日
要約:
【要約】【課題】 夾雑成分を除去して高感度に分析することができるイオン分析装置を提供する。【解決手段】 イオン排除クロマトグラフイー用カラム(9)を用いて夾雑成分を除去し、試料ループ(7)に目的成分を送り、切換バルブ(6)により流路切換を行って目的成分のみを分析カラムを介して検出器に送るようにして、夾雑成分の影響を受けることなく、高感度かつ高精度に目的イオンを定量する。
請求項(抜粋):
試料中の目的イオンをイオンクロマトグラフィー用分析カラムを用いて成分分離することにより目的イオンを分析するイオン分析装置において、イオンクロマトグラフィー用分析カラムの前段に切換バルブを介してイオン排除クロマトグラフィー用カラムを接続するとともに、イオン排除クロマトグラフィー用カラムの上流側にインジェクタと、そのインジェクタの上流側に、水もしくは水に低濃度の目的イオン以外の酸・塩基あるいは塩および必要に応じて水溶性の有機溶媒を含む移動相液溜とを設け、イオン排除クロマトグラフィー用カラムによって共存する酸性成分、中性成分および塩基性成分から目的イオン成分を粗く分離した後に、イオン排除クロマトグラフィー用カラムから溶出する目的イオンを含む溶出液のみを、切換バルブを用いてイオンクロマトグラフィー用分析カラムに導入して分離・検出するようにしたことを特徴とするイオン分析装置。
引用特許:
審査官引用 (8件)
  • 特開昭61-056969
  • 特開平1-232260
  • 陰イオン分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-055400   出願人:東ソー株式会社
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