特許

J-GLOBAL ID：200903035720472876

機器の劣化監視システム

発明者： 竹澤 由高 ,  小山 徹 ,  赤坂 伸一 ,  宮 寿一 ,  横森 経雄 ,  下寺 誠
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立ビルシステムサービス
代理人 (1件)： 高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-289057
公開番号（公開出願番号）：特開平7-140074
出願日： 1993年11月18日
公開日（公表日）： 1995年06月02日
要約：

【要約】 (修正有)【構成】機器の劣化監視対象物中に該監視対象物と同一の材料が内部に設けられたセンサを設置し、照射用光ファイバからの出射光強度をI0、前記センサ中に設けてある監視対象物と同一材料の光透過部の厚さt(mm)、光検出器により検出された光の強度をI1としたとき、〔I〕式で算出される光吸収損失α(dB/mm)の値を演算部で比較演算することにより監視対象物の劣化度を算出する機器の劣化監視システム。【数6】 α=-10/t×log(I1/I0) 〔I〕【効果】稼働中の機器の運転を停止することなく樹脂やオイル等の劣化度をその寿命点まで非破壊で監視できる劣化監視システムを提供することができる。

請求項（抜粋）：

機器の劣化監視対象物中に該監視対象物と同一の材料が内部に設けられたセンサを設置し、前記センサ内の材料に単色光源から照射用光ファイバにより導入透過された透過光を、対向配置された受光用光ファイバにより導き前記センサ内の材料の光吸収損失を検出する光検出器と、予め前記劣化監視対象物の劣化度と光吸収損失との関係を記憶させた関数発生部とを有し、前記光検出器からの光吸収損失の検出信号と前記関数発生部からの信号とを比較演算して前記監視対象物の劣化度を判定する演算部を備えた劣化監視システムであって、前記照射用光ファイバからの出射光強度をI0、前記センサ中に設けてある監視対象物と同一材料の光透過部の厚さt(mm)、前記光検出器により検出された光の強度をI1としたとき、〔I〕式で算出される光吸収損失α(dB/mm)の値を前記演算部で比較演算することにより監視対象物の劣化度を算出することを特徴とする機器の劣化監視システム。【数1】 α=-10/t×log(I1/I0) 〔I〕

IPC (4件)：

G01N 21/59 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/84 ,  G01N 27/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-082139
  
• 特開平3-115835
  
• 特開平2-082139
  
• 特開平3-115835