特許

J-GLOBAL ID：200903035721180585

絶対反射率測定装置

発明者： 安藤 修
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-260936
公開番号（公開出願番号）：特開平7-113744
出願日： 1993年10月19日
公開日（公表日）： 1995年05月02日
要約：

【要約】【目的】 試料に対する入射角が小さい場合にも光量ロスの少ない絶対反射率測定装置を提供することを目的とする。【構成】 外部検出器形測定装置の光路上の適宜の位置に設置した光束絞りの像を検出器部に結像させる第1レンズと、光束絞りにほぼ密着して設置され第1レンズと協同して絶対反射率測定装置の固定ミラーと回転ミラーの中間位置に分光光度計本体測定位置での光束を再結像させる第2レンズとを備えた絶対反射率測定装置である。

請求項（抜粋）：

分光光度計の外部に設置して分光光度計の測定光束を導入し分光光度計本体測定位置での光束を外部検出器部に再結像させる外部検出器形測定装置に取り付けて使用し、固定ミラーで反射した測定光を試料に照射する位置と試料からの反射光を検出部に導く回転ミラーに直接導く位置とに移動する移動ミラーを具備した絶対反射率測定装置であって、外部検出器形測定装置の光路上の適宜の位置に設置された光束絞りと、この光束絞りの像を検出器部に結像させる第1レンズと、光束絞りにほぼ密着して置かれ第1レンズと協同して絶対反射率測定装置の固定ミラーと回転ミラーの中間位置に分光光度計本体測定位置での光束を再結像させる第2レンズとを備えた絶対反射率測定装置。