特許
J-GLOBAL ID:200903035733685739

プロセス診断システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 京本 直樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-102621
公開番号(公開出願番号):特開平9-293064
出願日: 1996年04月24日
公開日(公表日): 1997年11月11日
要約:
【要約】【課題】プロセス改革やコンサルテーションに必須の現状分析や施策提案書作成の作業時間の短縮を図る。【解決手段】アンケート調査課題に関し質問事項を作成するアンケート設問作成部21と、アンケート回答者の属性を定める分類キーコード定義部22と、前記アンケート調査課題の分析方法を指定する分析方法定義部23と、情報交換媒体に格納された個々の回答結果データを分類キーコードを用いて選別し集計・分析するアンケート集計・分析部24と、分析結果から施策案を導くルールを定義する施策立案ルール定義部25と、指定されたルールを用いて分析結果から改善施策案を作成する施策立案実行部26とを有する。
請求項(抜粋):
アンケート調査課題に関し質問事項を作成するアンケート設問作成部と,アンケート解答者の属性を定める分類キーコード定義部と,前記アンケート調査課題の分析方法を指定する分析方法定義部と,情報交換媒体に格納された個々の回答結果データを分類キーコードを用いて選別し集計・分析するアンケート集計・分析部と,分析結果から施策案を導くルールを定義する施策立案ルール定義部と,指定されたルールを用いて分析結果から改善施策案を作成する施策立案実行部とを有するプロセス診断装置と、アンケート回答者に設問に回答させ個々の回答結果データを情報交換媒体に格納するアンケート実行部を有するプロセス回答装置と、前記プロセス診断装置から前記プロセス回答装置へアンケート調査課題の質問事項を伝達し,前記プロセス回答装置から前記プロセス診断装置へ前記質問事項に関する回答結果データを伝達する情報交換媒体とを有することを特徴とするプロセス診断システム。
IPC (2件):
G06F 17/00 ,  G06F 17/60
FI (2件):
G06F 15/20 N ,  G06F 15/21 Z
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平4-216164
  • 特開平4-127353
  • 特開平4-372080

前のページに戻る