特許
J-GLOBAL ID:200903035828283700

光熱変換分光分析方法とその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西澤 利夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-184450
公開番号(公開出願番号):特開2001-013096
出願日: 1999年06月29日
公開日(公表日): 2001年01月19日
要約:
【要約】【課題】 装置構成が簡略化され、その製作が低コストで実施可能で、かつ、測定操作が簡便である光熱変換分光分析法および光熱変換分光分析装置を提供する。【解決手段】 試料中に励起光を集光照射して熱レンズを形成し試料に検出光を照射して透過した検出光の偏光にともなう強度の変化を光電変換器により測定する光熱変換分光分析装置において、単一のレーザ光源(1)より出力されるレーザ光(2)から、お互いに垂直な偏光面を持つ状態で励起光(5)と検出光(6)を形成し、試料(13)に照射し、試料透過後に励起光と検出光の分離を行う。
請求項(抜粋):
試料に励起光を集光照射して熱レンズを形成するとともに、試料に検出光を照射し、透過した検出光の偏向にともなう強度の変化を光電変換器により測定する光熱変換分光分析方法において、単一のレーザ光源より出力されるレーザ光から、お互いに垂直な偏向面を持つ励起光と検出光とを形成し、試料透過後に励起光と検出光の分離を行うことを特徴とする光熱変換分光分析方法。
Fターム (12件):
2G040AA02 ,  2G040AB07 ,  2G040BA23 ,  2G040BA24 ,  2G040BA25 ,  2G040CA12 ,  2G040CA23 ,  2G040EA06 ,  2G040EA11 ,  2G040EB02 ,  2G040EC02 ,  2G040FA10
引用特許:
審査官引用 (5件)
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