特許
J-GLOBAL ID：200903035873016063
エレクトロスプレー、大気圧化学的イオン化質量分析計およびイオン発生源
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大橋 邦彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-353211
公開番号（公開出願番号）：特開平9-190795
出願日： 1996年12月16日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：
【要約】【課題】 大気圧化学的イオン化(APCI)と溶液の質量分析器を使用した分析および方法を提供する。【解決手段】 開示される装置と方法は、APCIあるいはエレクトロスプレーによって発生したイオンが、できてすぐその移動方向23が2つの互いに垂直な成分に分解できるような方向に向けられ、その1つの移動方向26が入口オリフィス10、抽出室15を通過して抽出室排気用真空排気ポート4に入る直線第1軌跡14に一致する。移動方向はそのように整列した速度成分26がそれに垂直な成分25より小さくなるような方向である。イオンは直線第1軌跡に対し30(と150(の間の角度をなして傾斜した第2軌跡に沿って室15を出て質量分析器に入ることができる。本発明はAPCIおよびエレクトロスプレー・イオン発生源を使用する従来の装置および方法に比べて改良された感度とより低いノイズ・レベルを提供する。
請求項（抜粋）：
本体中に形成されて真空排気ポートと連通した抽出室と、前記真空排気ポートに接続されて前記抽出室中の圧力を100mmHg以下に維持するための真空排気手段と、入口オリフィスを通って前記抽出室に入る少なくとも数個の分子が前記抽出室の中を直線第1軌跡上を通過して前記真空排気ポートへ入るように前記真空排気ポートの反対側に配置された、前記抽出室に通じる入口オリフィスと、前記抽出室から前記本体を通って導く出口オリフィス手段と、前記直線第1軌跡に対し30(と150(の間の角をなして傾斜した第2軌跡上を前記出口オリフィス手段を通って前記イオンを分析のため偏向させるよう前記抽出室に電位勾配を発生する手段と、サンプルが溶解している可能性のある溶液を受け取り前記第1軌跡の少なくとも1つの概念上の後方射影と前記本体の外側で交わる粒子の流れを前記入口オリフィスを通してその溶液から発生させる手段と、前記流れに含まれる粒子が前記概念上の後方射影に到達する前にその少なくともいくつかを帯電させる手段とを有する、分析のためイオンを発生するイオン発生源であって、前記粒子発生手段が更に、前記流れに含まれる粒子の少なくとも過半数が前記粒子発生手段を離れるとすぐ、前記直線第1軌跡のいずれか1つに平行な方向へ前記入口オリフィスに向かう分解要素が垂直方向の分解要素より小さい速度を有するように前記入口オリフィスに対して配置されていることを特徴とするイオン発生源。
IPC (3件)：
H01J 49/10
, H01J 49/26
, G01N 27/62
H01J 49/10
, H01J 49/26
, G01N 27/62 G
