半導体装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：村上博 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-114415
公開番号（公開出願番号）：特開2000-304819
出願日： 1999年04月22日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
要約：

【要約】【課題】内蔵バイアス抵抗のそれぞれの抵抗値を測定できると共に、ファンクションテストの際に、外部要因によるテスト不良を防ぐことのできるLCDドライバ/コントローラのテスト回路を提供する。【解決手段】駆動用の基準電圧印加端子2と接地部8の間に直列接続した内蔵バイアス抵抗R1〜R5に対して並列に接続した複数のスイッチSW1〜SW6を有するスイッチング回路9を備え、スイッチング回路9の各々のスイッチSW1〜SW6を、スイッチング制御部10の制御レジスタにより個別にON、OFFさせることにより、内蔵バイアス抵抗R1〜R5の抵抗値を測定する。また、内蔵バイアス抵抗間のそれぞれの電位を変化させる。

請求項（抜粋）：

液晶表示装置を駆動するドライバ/コントローラを内蔵した半導体装置において、上記液晶表示装置の駆動用の基準電圧印加端子と接地部の間に複数直列接続した内蔵バイアス抵抗と、この内蔵バイアス抵抗のそれぞれに対して並列に接続した複数のスイッチから構成されるスイッチング回路と、上記スイッチング回路の各々のスイッチを個別にON、OFFさせるスイッチング回路制御部からなる半導体装置。

IPC (7件)：

G01R 31/28 , G01R 27/02 , G02F 1/133 505 , G09G 3/20 670 , G09G 3/36 , H01L 27/04 , H01L 21/822

FI (6件)：

G01R 31/28 V , G01R 27/02 R , G02F 1/133 505 , G09G 3/20 670 Q , G09G 3/36 , H01L 27/04 T

Fターム (29件)：

2G028AA01 , 2G028BB01 , 2G028CG02 , 2G028DH03 , 2G028DH12 , 2G028EJ10 , 2G028FK08 , 2G032AA00 , 2G032AB01 , 2G032AD00 , 2G032AK01 , 2G032AK11 , 2H093NC68 , 2H093ND56 , 5C006BB11 , 5C006BF43 , 5C006EB01 , 5C080AA10 , 5C080BB05 , 5C080DD15 , 5C080FF03 , 5C080JJ02 , 5C080JJ03 , 5C080JJ04 , 5F038DF01 , 5F038DF17 , 5F038DT08 , 5F038DT12 , 5F038EZ20

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