特許

J-GLOBAL ID：200903035951396820

半導体装置の故障伝搬推定経路のみのネットリストからなる論理回路図及びレイアウト図を用いた故障解析方法

発明者： 住友 洋志
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 畑 泰之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-007618
公開番号（公開出願番号）：特開2002-217259
出願日： 2001年01月16日
公開日（公表日）： 2002年08月02日
要約：

【要約】【課題】 半導体集積回路の故障解析において、短時間で容易に論理回路の接続関係を把握することができ、論理回路のエラーの発生原因を解析するためのデータの表示方法を提供する。【解決手段】 半導体集積回路のネットリストと故障候補ネット名のリストと故障を検証するテストベクトルでの各ネットの期待値を用いて、期待値及び推定値付のネットリストとリンクしたレイアウトを表示する方法と故障候補のみのネットリストを用いて論理回路を表示する方法により、上記課題を解決する。

請求項（抜粋）：

回路の接続情報をすべて記述したネットリストと、故障診断ソフトウエアにより出力された前記回路の故障候補リストと、故障を検出するベクトルでの各ネットの期待値と、前記故障候補に故障を埋め込んで、シミュレーションを実行して取得した故障を検出するベクトルでの故障推定値を含む各ネットの期待値とを用いて、前記故障候補リスト中の故障候補から故障出力端子までの故障信号が伝搬したと推定される経路のみで構成されたネットリストを前記回路のレイアウトデータとリンクすることで、得られたレイアウトを表示するように構成したことを特徴とする半導体装置の故障伝搬推定経路のみのネットリストからなるレイアウト図の描画方法。

IPC (5件)：

H01L 21/66 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/302 ,  G06F 11/25 ,  H01L 21/82

FI (6件)：

H01L 21/66 Z ,  G01R 31/28 F ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 L ,  G06F 11/26 310 ,  H01L 21/82 T

Fターム (28件)：

2G032AA01 ,  2G032AC09 ,  2G032AE09 ,  2G032AE12 ,  2G032AF08 ,  2G032AK19 ,  4M106AA02 ,  4M106BA02 ,  4M106BA03 ,  4M106BA14 ,  4M106BA20 ,  4M106CA50 ,  4M106CA70 ,  4M106DE00 ,  4M106DJ20 ,  4M106DJ23 ,  5B048AA01 ,  5B048DD16 ,  5B048FF02 ,  5F064BB31 ,  5F064BB33 ,  5F064EE17 ,  5F064EE23 ,  5F064EE26 ,  5F064HH06 ,  5F064HH09 ,  5F064HH10 ,  5F064HH15