特許

J-GLOBAL ID：200903035952638045

多成分同時測定方法及びその装置

発明者： 工藤 憲一 ,  坊之下 雅夫
出願人/特許権者： 日本分光株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-154192
公開番号（公開出願番号）：特開平11-344479
出願日： 1998年06月03日
公開日（公表日）： 1999年12月14日
要約：

【要約】【課題】 本発明の目的は、より多くの微量成分の同時分析を容易に及び高感度に行うことのできる多成分同時測定方法を提供することにある。【解決手段】 目的成分を含む被測定液を前処理カラムへ導入して目的成分より早く溶出する夾雑成分を除去したのち(ステッフ ゚100,102)、バックフラッシュ法(ステッフ ゚104)で該カラム中に展開した各成分を同時に溶出するオンライン前処理工程と、該バックフラッシュ法で得た被測定液を化学処理カラムへ導入して目的成分が該夾雑物の溶出位置に溶出するように化学処理をする化学処理工程(ステッフ ゚106)と、該工程(ステッフ ゚106)で得た被測定液を分離カラムへ導入して目的成分を分離する分離工程(ステッフ ゚108)と、該工程(ステッフ ゚108)で分離した目的成分を検出する目的成分検出工程(ステッフ ゚110)と、を備えたことを特徴とする多成分同時測定方法。

請求項（抜粋）：

液体クロマトグラフィーを用いて多成分の同時分析が可能な方法であって、一または二以上の目的成分を含む被測定液を、前処理カラムへ導入して、該目的成分より早く溶出する夾雑物を除去したのち、バックフラッシュ法で該前処理カラム中に展開した各成分を同時に溶出するオンライン前処理工程と、前記バックフラッシュ法で得た被測定液を化学処理カラムへ導入して、前記目的成分が前記夾雑物の溶出位置に溶出するように化学処理をする化学処理工程と、前記化学処理工程で得た被測定液を分離カラムへ導入して目的成分を分離する分離工程と、前記分離工程で分離した目的成分を検出する目的成分検出工程と、を備えたことを特徴とする多成分同時測定方法。

IPC (3件)：

G01N 30/14 ,  G01N 30/06 ,  G01N 30/40

FI (3件)：

G01N 30/14 A ,  G01N 30/06 E ,  G01N 30/40