特許
J-GLOBAL ID：200903035953109526
自動テストハンドラー用コンタクトアセンブリー
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
佐藤 隆久 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-345639
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027192
出願日： 1992年12月01日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：
【要約】【目的】 電子部品、例えば集積回路(IC)をテストする為に使われるコンタクトアセンブリ-を提供する。【構成】 コンタクトアセンブリ-20は、テストコンタクタ-を有するテストフィクスチャ-68と、テストする電子部品をテストフィクスチャ-68に対応して配列するようにテストトレイ24上に整列したキャリア-モジュ-ル22、キャリア-モジュ-ルとテストコンタクタ-を接触させる垂直ドライブ66とで構成される。垂直ドライブ66にはキャリア-モジュ-ル22とテストコンタクタ-に追加の接触力を与える為、個別ドライブとが設けられる。垂直ドライブ66は更に、電子部品のリ-ドとテストコンタクタ-との理想的な接触圧力を確実にする為のリ-ドプッシャ-を含む。キャリア-モジュ-ルは電子部品のリ-ドを分離しテストコンタクタ-を導入する為の複数のスリットが供給される。
請求項（抜粋）：
テスト信号発生器と信号比較器を有する電子部品テストシステムにおける自動テストハンドラ-に使用されるコンタクトアセンブリ-において、テストする電子デバイスに対応する複数のテストコンタクタ-を有し、そのテストコンタクタは上記電子部品のリ-ドと接触し、上記テストコンタクタ-は上記テスト信号ジェネレイタ-から上記電子部品にスティミュラステスト信号を供給し、且つ上記電子デバイスからの結果信号を受信しそれを上記信号比較器に伝えるテストフィクスチャ-と、テストする上記電気部品に対応する複数のプッシャ-と個別ドライブを有し、その電子部品を上記テストコンタクタ-と接触させるように垂直方向に移動する垂直ドライブと、上記垂直ドライブと上記テストフィクスチャ-間の対応するテスト位置に、テストする上記電子デバイスを運ぶ為のキャリア-モジュ-ルであり、そのテストする上記電子部品を内部に配置するシ-トを持つキャリア-モジュ-ルを複数有するテストトレイとで構成されることを特徴とするコンタクトアセンブリ-。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, B65G 47/91
, H01L 21/68
