特許
J-GLOBAL ID：200903036027092020
集中応力分布測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-043983
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142067
出願日： 1992年02月28日
公開日（公表日）： 1993年06月08日
要約：
【要約】【目的】 セラミックス等の脆性材料の信頼性評価や品質保証を確実に行うことを可能にするために、脆性材料の破壊起点となりうる部位等に応力集中した状態における応力分布を、定量的にかつ比較的短時間で測定・評価することを可能にする。【構成】 測定試料2に、支持部材1とこれと直交するネジ材5等により構成した応力負荷治具を用いて、任意の荷重を負荷する。この荷重の負荷により測定試料2に応力集中部を生じさせる。荷重の負荷状態を維持しつつ、応力集中部周辺における応力分布を、微小X線法または超音波照射による表面弾性波速度変化を用いて、局所応力値として測定する。
請求項（抜粋）：
測定試料に任意の荷重を負荷し、この荷重の負荷により前記測定試料に応力集中部を生じさせ、前記荷重の負荷状態を維持しつつ、前記応力集中部周辺における応力分布を、微小X線法または超音波照射による表面弾性波速度変化を用いて、局所応力値として測定することを特徴とする集中応力分布測定方法。
IPC (3件)：
G01L 1/00
, G01L 1/25
, G01N 3/00
