特許
J-GLOBAL ID：200903036031351421
発光分光分析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井内 龍二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-018106
公開番号（公開出願番号）：特開平7-225188
出願日： 1994年02月15日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：
【要約】【構成】 試料台に載置した鋼試料の分析面と該分析面に対向配置された電極との間で放電させ、発生したスペクトルを分光する発光分光分析方法において、前記鋼試料を発光分光分析する際の分析温度として予め所定の温度を設定しておき、溶鋼からサンプリングした熱間鋼試料1を切断工程-冷却恒温工程-乾燥工程-研磨工程の各工程において前記所定温度以下で調製し、研磨工程終了後に分析用鋼試料11を前記所定温度に設定して発光分光分析を行う発光分光分析方法。【効果】 前記試料調製の全工程において分析用鋼試料11の分析面に形成される酸化皮膜量を前記設定温度相当量に制御することができるので、前記所定温度で発光分光分析を行うことにより鋼試料中の微量成分の高精度分析を行うことができる。
請求項（抜粋）：
試料台に載置した鋼試料の分析面と該分析面に対向配置された電極との間で放電させ、発生したスペクトルを分光する発光分光分析方法において、前記鋼試料を発光分光分析する際の分析温度として予め所定の温度を設定しておき、溶鋼からサンプリングした熱間鋼試料を切断工程-冷却恒温工程-乾燥工程-研磨工程の各工程において前記所定温度以下で調製し、研磨工程終了後に前記鋼試料を前記所定温度に設定して発光分光分析を行うことを特徴とする発光分光分析方法。
IPC (5件)：
G01N 21/67
, G01J 3/443
, G01N 1/28
, G01N 21/78
, G01N 33/20
