特許
J-GLOBAL ID：200903036050016803
分光光度計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-352724
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170339
出願日： 1996年12月12日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：
【要約】【課題】 自動的に、且つ、実際の分析と同じ条件下で検定を行なうことができるようにする。【解決手段】 標準試料を封入した標準試料セル25をセルラック21に載置しておく。オートサンプラ12のリフタ23が、指定された標準試料セル25をセルラック21から持ち上げ、光路上に置かれたセルホルダ17の所へ移動して、そこに挿入する。その前後の光量を測定することにより、光量、迷光等に関する検定を行なう。制御部16は所定のプログラムに従ってこれらの制御を行なう。制御部16は更に、波長の正確さ等、その他の検定項目についても自動的に検定を行なう。
請求項（抜粋）：
a)標準試料を封入した標準試料セルと、b)光路上に置かれたセルホルダと、c)標準試料セルをセルホルダに着脱するためのハンドリング機構と、d)所定のプログラムに従い、ハンドリング機構を制御して標準試料セルをセルホルダに着脱するとともに、標準試料セルを通過する光量を測定することにより本分光光度計の検定を行なう制御部と、を備えることを特徴とする分光光度計。
IPC (4件)：
G01J 3/02
, G01N 1/00
, G01N 21/27
, G01N 35/00
G01J 3/02 C
, G01N 1/00 C
, G01N 21/27 F
, G01N 35/00 F
