特許
J-GLOBAL ID:200903036061661271
結像および照射量測定用のX線検出器配列
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
伊東 忠彦
, 大貫 進介
, 伊東 忠重
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-507864
公開番号(公開出願番号):特表2005-526985
出願日: 2003年05月15日
公開日(公表日): 2005年09月08日
要約:
X線検出装置は複数のサブアレー(40)に配置された画素配列を有する。各サブアレー(40)内の画素は共通の出力(42)を共有する。検出器は2つのモードで作動し、照射量検出モードでは切替装置(50)はオフにされ、電荷の流れは入射光に応じて、切替装置(50)のオフキャパシタンスを介して部分的に出力に結合され、読み出しモードでは切替装置はオンにされ、電荷は検出信号としての測定のため、電荷蓄積素子と出力(42)の間に流れる。切替装置(50)は第1および第2の制御信号によってオンにされ、サブアレー(40)内の単一画素を選択することが可能となる。従って通常の読み出しの分解能は画素当たりであるのに対して、照射量検出の分解能はサブアレー当たりとなる。
請求項(抜粋):
検出画素の配列を有するX線検出装置であって、各画素は入射光を電荷の流れに変換する変換素子と、電荷蓄積素子と、蓄積された電荷を前記画素の出力に提供することの可能な切替装置とを有し、画素の前記配列は複数のサブアレーに配置され、各サブアレーは複数の画素を有し、各サブアレー内の前記画素は共通の出力を共有し、当該X線検出装置は2つのモードで作動することができ、第1のモードでは前記切替装置がオフにされて、入射光に応答した電荷の流れは、前記切替装置のオフキャパシタンスを介して照射量検出信号の測定用の前記出力に部分的に結合され、第2のモードでは前記切替装置はオンにされて、前記電荷蓄積素子と検出信号の測定用の前記出力との間に電荷が流れ、前記切替装置は第1および第2の制御信号によってオンにされ、前記サブアレー内の単一の画素を選択することが可能となるX線検出装置。
IPC (6件):
G01T1/24
, G01T1/20
, H01L27/14
, H01L27/146
, H01L31/09
, H04N5/32
FI (7件):
G01T1/24
, G01T1/20 E
, G01T1/20 G
, H04N5/32
, H01L27/14 K
, H01L27/14 C
, H01L31/00 A
Fターム (42件):
2G088EE01
, 2G088FF02
, 2G088GG19
, 2G088GG20
, 2G088GG21
, 2G088JJ05
, 2G088JJ09
, 2G088JJ22
, 2G088JJ33
, 2G088KK27
, 2G088KK40
, 2G088LL15
, 2G088LL27
, 4M118AA10
, 4M118AB01
, 4M118BA05
, 4M118CA02
, 4M118CA14
, 4M118FB03
, 4M118FB09
, 4M118FB13
, 4M118FB16
, 4M118FB24
, 4M118GA10
, 5C024AX11
, 5C024CX41
, 5C024GX04
, 5C024GX09
, 5C024GX18
, 5C024GY01
, 5C024HX01
, 5C024HX17
, 5C024HX35
, 5C024HX40
, 5C024HX41
, 5C024HX50
, 5F088AA01
, 5F088AA11
, 5F088BB07
, 5F088EA02
, 5F088JA17
, 5F088LA08
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
米国特許第5461658号明細書
-
国際公開第02/25314号パンフレット
審査官引用 (2件)
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