特許
J-GLOBAL ID：200903036110357567
基板検査装置並びにそのパラメータ設定方法およびパラメータ設定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
世良 和信
, 和久田 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-031716
公開番号（公開出願番号）：特開2006-220437
出願日： 2005年02月08日
公開日（公表日）： 2006年08月24日
要約：
【課題】基板検査装置に用いられるパラメータ、特にガルウィング型リードをもつ部品の基板検査に好適なパラメータ、を自動生成可能な技術を提供する。【解決手段】情報処理装置が、部品を撮像して得られた画像から、半田が付与されるランド領域を特定し、前記ランド領域から、リードの影響が現れるリード領域を除外した領域を、基板検査で用いる検査領域に設定する。このとき、情報処理装置は、前記部品のCAD情報からリード高さの情報を取得し、前記リード高さに応じて前記ランド領域から除外するリード領域を大きくする。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
基板上に実装されたガルウィング型リードをもつ部品に異なる入射角で複数の色の光を照射し、その反射光を撮像して得られた画像から検査領域を抽出し、その検査領域から所定の色条件を満たす領域を抽出し、抽出された領域のもつ特徴量が所定の判定条件を満たすか否かで前記部品の実装状態を検査する基板検査装置において用いられるパラメータを自動生成する方法であって、
情報処理装置が、
部品を撮像して得られた画像から、半田が付与されるランド領域を特定し、
前記ランド領域から、リードの影響が現れるリード領域を除外した領域を、基板検査で用いる検査領域に設定する方法において、
前記情報処理装置は、
前記部品のCAD情報からリード高さの情報を取得し、
前記リード高さに応じて前記ランド領域から除外するリード領域を大きくする
基板検査装置のパラメータ設定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/956 B
, H05K3/34 512B
2G051AA65
, 2G051AB02
, 2G051AB14
, 2G051BA01
, 2G051BA08
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA06
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA17
, 2G051EB01
, 2G051EC02
, 2G051ED01
, 2G051ED21
, 5E319AA03
, 5E319AB01
, 5E319AC01
, 5E319AC11
, 5E319BB05
, 5E319CC33
, 5E319CD53
, 5E319GG15
出願人引用 (2件)
審査官引用 (10件)
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