特許
J-GLOBAL ID：200903036145314941
実装部品検査用データの教示方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-171680
公開番号（公開出願番号）：特開平5-340887
出願日： 1992年06月05日
公開日（公表日）： 1993年12月24日
要約：
【要約】【目的】特に同一または類似の部品群が領域単位で存在する基板について、効率的な教示作業を可能となすことにより、教示作業の簡易化とオペレータの作業負担の軽減とを実現する。【構成】基板29上の部品群32aについて、各部品31ごとに実装部品検査用データを実装部品検査装置に教示した後、部品群32aの全体を領域Aを指定してメモリに各部品の教示済みデータ群を一括して記憶させる。その後の教示作業では、前記指定領域A内の部品群32aと共通する部品群32bを有する教示対象領域Bについて,メモリより前記教示済みデータ群を読み出し、実装部品検査装置に一括して教示する。
請求項（抜粋）：
基板上に実装された複数の部品につき、それぞれの実装品質を検査するのに必要な実装部品検査用データを実装部品検査装置に教示する方法であって、複数の検査箇所についての教示済みのデータ群を領域を指定してメモリに一括して記憶させておき、前記指定領域内の検査箇所と共通する検査箇所を有する教示対象領域について前記メモリより前記教示済みのデータ群を読み出し、実装部品検査装置に一括して教示することを特徴とする実装部品検査用データの教示方法。
IPC (2件)：
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