個別テストプログラム作成方式

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：加藤朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-220398
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048300
出願日： 1996年08月02日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：

【要約】【課題】個別テストプログラムを自動作成するとともに、テストするパターンオブジェクトのメモリ容量の合計を算出しテストの可否を判断する方式の提供。【解決手段】LSIの回路情報、テスト対象のマクロ情報、プログラムひな形、ライブラリを入力し、テスト対象のテスタピン情報、強化電源・強化グランド情報、テストパターンとオブジェクトの対応、クロックの種別、動作率、消費電力、テストピンの信号レベル、スキャン設計時にはスキャンパス長、スキャンパスの切り替えるアドレス情報を加え、更に内蔵メモリを有する時メモリマクロの配置位置情報、リードデータ数、リードデータの配線長に合わせて、パターンオブジェクトの総容量とテスタのメモリ容量を比較しテスト可能であれば、各情報を個別テストプログラムのひな形に挿入する。

請求項（抜粋）：

被試験LSIをテストするためのテストプログラムの作成方式において、LSIテスト時に用いられるテストパターンのオブジェクトの総容量を求め、これをテスト装置のメモリ容量と比較して、テスト可能か否かを判定する手段を備えたことを特徴とするテストプログラムの作成方式。

IPC (4件)：

G01R 31/3183 , G06F 11/22 310 , G06F 11/22 360 , G06F 11/28 340

FI (4件)：

G01R 31/28 Q , G06F 11/22 310 A , G06F 11/22 360 P , G06F 11/28 340 A

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