特許
J-GLOBAL ID：200903036208986163
高速X線CTによる被写移動体速度及び高解像度情報の計測方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院機械技術研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-260133
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083171
出願日： 1999年09月14日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：
【要約】【課題】 通常のX線CTでは測定できない測定断面における被写移動体の移動速度を測定可能にし、また単一の検出器モジュールを、上記移動速度の計測のための二断面撮影と単一断面の高空間分解能計測とに併用可能にする。【解決手段】 細長いCdTe半導体素子3の多数を、端部側の一部が隣接するようにして交互に逆方向に突出させて配置した検出器モジュール1を用いる。素子3が一個置きに配置されている両端側の素子粗配置部4A,4Bに、スリット6A,6Bを重ね、それらのスリットを通過したX線を上記素子3において検出することにより、被写移動体における二断面の内部情報を同時測定する。その微小時間後に、同様にして二断面の内部情報を同時測定し、それらの比較から、被写移動体の速度を求める。スリットの交換によりCdTe素子稠密配置部5を被写体の高空間分解能計測に用いることができる。
請求項（抜粋）：
小型半導体からなる細長いX線検出用の素子の多数を、端部側の一部が相互に隣接するようにして交互に逆方向に突出させて配置した検出器モジュールを用い、上記素子が一個置きに配置されている検出器モジュールの両端側の素子粗配置部に、それぞれスリットを重ね、X線源から照射してそれらの二つのスリットを通過したX線を上記素子において検出することにより、被写移動体における二断面の内部情報を同時測定し、その微小時間後に、同様にして上記二つのスリットを通してX線を検出することにより、被写移動体における二断面の内部情報を同時測定し、二つのスリットを通して測定した被写移動体の内部情報で異なる時間に測定したものを比較し、それが酷似するときの時間間隔及び上記スリット間の間隔に基づいて、被写移動体の速度を求める、ことを特徴とする高速X線CTによる被写移動体の速度計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (14件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA06
, 2G001DA08
, 2G001DA09
, 2G001DA10
, 2G001GA03
, 2G001GA05
, 2G001JA09
, 2G001KA20
, 2G001PA11
, 2G001SA01
