特許

J-GLOBAL ID：200903036226261125

架張型の色識別マスク微小変形評価方法

発明者： 大木 恒郎 ,  福島 祐一
出願人/特許権者： 凸版印刷株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-222683
公開番号（公開出願番号）：特開2004-063375
出願日： 2002年07月31日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：

【課題】架張型色識別マスクを使用する陰極線管製造工程において、画像表示不良を引き起こす原因となるマスクの微小変形を、定量的かつ適当な評価方法により、定量的に高い精度を持った評価方法を提供する。【解決手段】三次元精密測定の装置が、高さ方向測定精度±1.5μm以下のレーザー変位測定装置系を有し、かつ、専用もしくは汎用プログラミング言語によるプログラム制御手順、もしくは手動の測定手順を繰り返し測定する制御で測定する三次元形状精密測定によって、成形組み立て前に、マスク単体の微小変形高さを測定し、該測定値を本発明の急峻度として数値表現し、該急峻度を用いて、前記マスクの使用の可否を判定する架張型色識別マスク微小変形評価方法。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

架張型色識別マスクを使用する陰極線管製造工程において、画像表示不良を引き起こす原因となるマスクの微小変形を、成形組み立て前のマスク単体の三次元形状精密測定によって急峻度として数値表現し、該急峻度を用いて、成形組み立て前に、前記マスクの使用の可否判定を可能とする架張型色識別マスク微小変形評価方法。

IPC (1件)：

H01J9/42

FI (1件)：

H01J9/42 A

Fターム (3件)：

5C012AA02 ,  5C012BE01 ,  5C012BE03